中評社北京5月11日電／據新華網報導，俄羅斯薩拉托夫國立醫科大學的研究者日前報告說，他們通過研究感覺神經性耳聾青少兒患者試驗組發現，其中多數患者的病因與致病基因有關，該研究成果將有助開發診治這種疾病的新方法。
據俄新社報導，這個試驗組由26名1歲到18歲的感覺神經性耳聾患者組成，研究者對這些患者進行了醫學檢查、病史分析和全基因組測序等分子遺傳學研究，結果發現21人帶有數種致病基因，其中部分基因會導致某些疾病和綜合征的發展，而感覺神經性耳聾是這些疾病和綜合征的症狀之一。還有一些基因具有突變特徵，這些基因的活動可能與罹患感覺神經性耳聾直接相關。
研究者舉例說，他們發現有3例患者的ARID基因存在致病性變化，這種變化與一種遺傳性疾病科芬－西里斯綜合征有關聯，而感覺神經性耳聾是該綜合征的特徵。還有兩例患者帶有SLC26A4基因突變和GJB2基因突變，這兩種突變會導致病情發展為非綜合征性感覺神經性耳聾。
參與這項研究的兒科副教授古梅紐克總結說，如果發現某些孩子的感覺神經性耳聾不是由發炎或損傷引起，那就要考慮使用分子遺傳學診斷來確定病因。深入瞭解這種耳聾的病因，將有助制定個性化治療方案。 |
